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“μXRF+高光譜成像”高通量樣芯分析技術(shù)
發(fā)布時(shí)間： 2021-08-30 點(diǎn)擊次數(shù)： 2816次易科泰生態(tài)技術(shù)公司推出高通量“μXRF +高光譜成像"樣芯分析技術(shù)方案，可對巖礦樣芯、海洋湖泊沉積樣芯進(jìn)行高通量XRF掃描分析元素分布、X光掃描成像密度分析（選配，用于沉積樣芯等）、高通量高光譜成像分析（包括可見光近紅外、短波紅外、中波紅外及長波紅外不同波段高光譜成像）。
XRF Core Scanner 結(jié)合了X-射線熒光分析(X-ray Fluorescence)、數(shù)字X-射線密度成像（Digital x-ray micro radiography）和高分辨率數(shù)字光學(xué)成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)多種樣芯的非接觸式測量，用于土壤、土芯、海洋或湖底沉積物、巖石、洞穴堆積物（如鐘乳石），泥炭塊、巖芯等的密度和元素分析，可直接對鉆芯進(jìn)行掃描，無需復(fù)雜的前處理和樣品制備，節(jié)約寶貴時(shí)間和費(fèi)用，單次掃描即可獲得多種元素（Mg – U）濃度數(shù)據(jù)，在保證精度的前提下2分鐘便可獲得1米樣芯的元素濃度及分布信息，每年可連續(xù)工作幾千小時(shí)。
XRF Scanner MC/SC 元素掃描分析系統(tǒng)針對高通量巖礦分析檢測設(shè)計(jì)，可安裝于采礦現(xiàn)場作業(yè)車上，用于單樣芯或多樣芯元素快速精確高靈敏度掃描分析，100秒即可完成1米樣芯的元素濃度（Na - U）及分布信息。
高光譜樣芯掃描分析可配備RGB成像、VISNIR成像、SWIR成像、LWIR高光譜成像，其中SisuROCK全自動(dòng)巖礦樣芯高光譜成像分析工作站為多樣芯同步掃描成像，完成一盒鉆芯樣品掃描僅需15秒（樣品最大長度1500毫米），可對巖礦樣芯中的碳酸鹽、硅酸鹽、石英、長石、鐵礦等多種成分進(jìn)行掃描分析。
應(yīng)用案例：新西蘭懷卡托大學(xué)理學(xué)院的Barker等人為了克服短波紅外（SWIR）難以應(yīng)對礦物中細(xì)沙成分（如石英和長石）帶來的低反射率和無法有效識(shí)別問題，利用μXRF+長波紅外（LWIR）高光譜成像技術(shù)對內(nèi)華達(dá)州一處卡林型金礦進(jìn)行了研究，由于巖芯總長2030米，因此選擇掃描速度和精度俱佳的SisuROCK全自動(dòng)巖礦樣芯高光譜成像分析工作站進(jìn)行采集，這種高光譜結(jié)合μXRF識(shí)別礦物的方法無需破譯混合像元中的光譜變量，也無需為地質(zhì)領(lǐng)域單獨(dú)生成光譜庫，可廣泛應(yīng)用于多種礦床類型，在節(jié)約寶貴時(shí)間的同時(shí)極大的提高了光譜數(shù)據(jù)分析速度和準(zhǔn)確性，詳見2020年《Economic Geology》（Quantitative Mineral Mapping of Drill Core Surfaces II: Long-Wave Infrared Mineral Characterization Using μXRF and Machine Learning）。
上圖左為巖芯RGB圖像，5個(gè)彩色圓點(diǎn)為高光譜成像取點(diǎn)位置；上圖中為VN-SWIR高光譜曲線，無法有效區(qū)分礦物成分；上圖右為LWIR高光譜曲線，從該圖中可以非常明顯的看出特征峰之間的差異
易科泰生態(tài)技術(shù)公司提供全面樣芯掃描成像分析技術(shù)方案：高分辨率樣芯（芯體）掃描成像分析，全面反映二維密度/質(zhì)地和化學(xué)成分分布
巖礦樣芯、海洋湖泊沉積樣芯、樹木年輪樣芯等
RGB掃描成像與密度掃描成像
高光譜掃描成像分析
XRF元素掃描分析
高通量、非損傷
可選配LIBS元素分析
主要產(chǎn)品技術(shù)：
SisuROCK多樣芯高通量高光譜成像掃描分析系統(tǒng)
SisuSCS單樣芯高光譜成像掃描分析系統(tǒng)
SisuCHEMA高光譜成像分析系統(tǒng)
SpectraScan高光譜成像掃描分析系統(tǒng)
XRF Core Scanner樣芯密度與元素掃描分析系統(tǒng)
XRF Scanner MC/SC 巖礦/湖海樣芯元素掃描分析系統(tǒng)
XRF Multiscanner樹木年輪分析系統(tǒng)
VIS-NIR P4000土壤樣芯理化性質(zhì)勘測系統(tǒng)
GeoDrone®無人機(jī)遙感技術(shù)
產(chǎn)品中心
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